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無錫冠亞制冷加熱系統(tǒng)性能*,高精度、智能型溫度控制,非常寬的溫度控制范圍,從-120℃~350℃,適合多數(shù)企業(yè)恒溫控制需求。冷熱一體機,冷卻恒溫裝置。
更新時間:2025-01-07
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
半導體集成電路icChiller,高低溫測試設(shè)備的典型應(yīng)用: 適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。
更新時間:2025-01-07
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
半導體集成電路Chiller 控流量 制冷加熱的典型應(yīng)用: 適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。
更新時間:2025-01-07
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
半導體和集成電路器件Chiller, 可定制的典型應(yīng)用: 適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。
更新時間:2025-01-07
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
半導體功率器件測試Chiller,元器件行業(yè)測試的典型應(yīng)用: 適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。
更新時間:2025-01-07
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
半導體功率器件Chiller,無錫冠亞廠家的典型應(yīng)用: 適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。
更新時間:2025-01-07
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家